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Dioden.JPG Die Diode (griech.: di zwei, doppelt; hodos Weg) ist ein elektronisches Bauelement mit zwei Polen, das eine unsymmetrische und nichtlineare Kennlinie besitzt. Eine Diode ist für Strom, der in eine Richtung fließt, durchlässig und für Strom, der entgegengesetzt durch den Leiter fließt, unterhalb der Durchbruchspannung ein Isolator. Hierdurch kommt es zur Gleichrichtung des Stroms, da der Strom die Diode nur in eine Richtung passieren kann. Dioden kann man also mit einem mechanischen Rückschlagventil vergleichen, da dieses auch nur Massenfluss in eine Richtung erlaubt. Diode_Schaltzeichen.png

Der Begriff Diode wird als Synonym für den Begriff "ungesteuerter Gleichrichter" verwendet. Allerdings wurden die wegen technischer Nachteile veralteten Selen-Gleichrichter nicht als Dioden bezeichnet, obwohl sie es technisch betrachtet sind.

Aufbau einer Halbleiterdiode


Die Grundlage der Halbleiterdiode ist ein n-p-dotierter Halbleiterkristall, dessen Leitfähigkeit abhängt von der Polung der Betriebsspannung an Anode (p-dotiert) und Kathode (n-dotiert). Der p-n-Übergang (graue Fläche) ist eine Zone, die frei von beweglichen Ladungsträgern ist, da die positiven Ladungen des p-Kristalls sich hier mit den negativen Ladungen des n-Kristalls ausgeglichen (rekombiniert) haben. Da sich die ebenfalls vorhandenen ortsfesten Ladungen nicht rekombinieren können, herrscht innerhalb der Zone ein elektrisches Feld, welches einen Ladungstransport unterbindet. Dieses Feld kann durch eine von außen angelegte Spannung – je nach Polung – kompensiert werden, dann wird der p-n-Übergang leitfähig, oder es kann verstärkt werden, dann bleibt er gesperrt.

Bild:Pn-Diode Aufbau.png|pn-Diode Bild:Schottky-Diode Aufbau.png|Schottky-Diode

Funktion


Die Funktion einer Gleichrichterdiode im Normalbetrieb kann man sich am einfachsten als Rückschlagventil vorstellen. Wenn der Druck (Spannung) auf dieses Ventil (Diode) in Sperrichtung erfolgt, so wird der Stromfluss blockiert. In die Gegenrichtung muss der Druck groß genug werden, um den Federdruck des Ventils (Sperrspannung) überwinden zu können. Danach öffnet das Ventil (die Diode bricht durch) und der Strom kann fließen.

Bild:Kugelrückschlagventil geschlossen.png|Ein geschlossenes Kugelrückschlagventil. Bild:Kugelrückschlagventil offen.png|Ein geöffnetes Kugelrückschlagventil.

Dieses Modell entspricht der Shockley-Formel, wodurch diese Formel u.a. auch zur näherungsweisen Berechnung von Ventilen geeignet ist.

Formeln


Im Folgenden werden die wichtigsten Formeln zur Beschreibung der Funktion von Dioden beschrieben. Es werden hierfür die folgenden Formelzeichen verwendet:

  • Spannung an Diode in Durchlassrichtung: U_D
  • Strom durch Diode in Durchlassrichtung: I_D
  • Sättigungssperrstrom: I_S
  • Diffusionsstrom: I_{D,D}
  • Leckstrom: I_{D,R}
  • Leck-Sättigungssperrstrom: I_{D,S}
  • Durchbruchstrom: I_{D,BR}

  • Emissionskoeffizient: n
  • Temperaturspannung: U_T

Zusätzlich sind die folgenden Naturkonstanten wichtig:

Statisches Verhalten

ideale Diode
Die Shockley Formel (benannt nach William Bradford Shockley) beschreibt die Kennlinie der idealen Diode. Sie gilt bei UD ≥ 0, wird gelegentlich aber auch zur Beschreibung für die Kennlinie bei UD < 0 (Durchbruchsbereich) verwendet.

Diode-Kennlinie 1N4001.gif

I_D = I_S(e^{U_D \over {n \cdot U_T}}-1)
Sättigungssperrstrom: I_S \approx { 10^{-12} \dots 10^{-6} {\rm A}}
Emissionskoeffizient: n \approx 1 \dots 2
Temperaturspannung: U_T = bei Raumtemperatur

Wenn man die resultierende Kennlinie betrachtet, nimmt der Strom durch die Diode ID exponentiell zur angelegten Spannung zu. Ab einer Spannung von etwa 0,4 V beginnt bei Si-Dioden der Strom merklich anzusteigen. Der eigentliche Betriebsbereich liegt hierbei bei einer Spannung UF (forward Voltage) von etwa 0,6 V bis 0,7 V. Bei Schottky- und Germanium-Dioden beginnt ein nennenswerter Strom bereits bei etwa 0,2 V; der Betriebsbereich liegt bei etwa 0,3 V bis 0,4 V. Wenn man eine negative Spannung an eine Si-Diode anlegt beginnt ab etwa −50 V bis −1000 V die Diode ebenfalls leitend zu werden; eine Schottky-Diode bei etwa −10 V bis −200 V. Man spricht hierbei von der Durchbruchsspannung UBR der Diode, welche mit umgekehrten Vorzeichen angegeben wird. Durch spezielle Dotierungen erreicht man auch Durchbrüche unter −5 V. Dieser Zener-Effekt wird für Z-Dioden verwendet.
Für einfache Berechnungen kann die Diode mit einem in Serie geschalteten Bahnwiderstand RB als Schalter angesehen werden, welcher ab einer Spannung von 0,4 V schließt.
Der Strom durch die Diode setzt sich hierbei aus dem Hochstromeffekt ID,D, dem Leckstrom ID,R und dem Durchbruchsstrom IDBR zusammen:
I_{D} = {I_{D,D} + I_{D,R} + I_{D,BR} \,{}}

Differentieller Widerstand
Der differenzielle Widerstand ergibt sich aus der Tangente durch den Arbeitspunkt der Diode. Durch die Verwendung einer Geraden anstatt der tatsächlichen Exponentialfunktion werden die benötigten Rechenschritte wesentlich vereinfacht.

Diode-Kennlinie vereinfacht.gif

r_D = \over {d {I_D}}} \forall A \cdot u_D = {\begin{matrix} \gg {I_S}} \\ {\approx} \\ {} \end{matrix}}
Arbeitspunkt: A

Bei großen Strömen wird r_D sehr klein und man muss zusätzlich den Bahnwiderstand R_B berücksichtigen, welcher mit r_D in Serie geschalten wird.
Diese Ersatzschaltung eignet sich nur für Frequenzen von 0...10 kHz. Bei höheren Frequenzen, wie sie auch beim Ein- und Ausschalten auftreten, muss man zusätzlich die kapazitiven Eigenschaften der Diode berücksichtigen.

Temperaturabhängigkeit
Die Diodenkennlinie variiert stark mit der Temperatur. Aus der Formel für die ideale Diode ergibt sich unter Berücksichtigung der Temperatur die Formel:

Diode-Kennlinie 1N4001.gif

I_D({U_D,T}) = I_S(T) \left( e^-1 \right) mit:

  • {U_{T(T)}} = {\frac{k \cdot T}{q}} = {86{,}142 \, {\rm \frac{ \mu V}{K}} \cdot T} {\begin{matrix} {T=300 \, {\rm K}} \\ {\approx} \\ {} \end{matrix}} {26 \, {\rm mV}}

{ I_S(T) } = { I_S(T_0) } \cdot { e^{ \left( { T \over T_0 }-1 \right) \cdot { {U_G(T)} \over {n U_T(T)} } } \cdot { \left( {T \over T_0} \right) ^ \over n} } } mit {x_{T,I}} \approx 3
Dabei ist k = {1{,}38} \cdot 10^{-23} \, {\rm V \, A \, s \, K^{-1}} die Boltzmannkonstante, q={1{,}602} \cdot 10^{-19} \, {\rm A \, s} die Elementarladung und U_G = 1{,}12 \, {\rm V} die Bandabstandsspannung (gap voltage) von Silizium.

Zusätzlich muss man auch die Temperaturabhängigkeit der Spannung berücksichtigen.

\forall ({I_D = {const.}}}) = \over T} \begin{matrix} {T = 300 \, {\rm K}} \\ {U_D = 0{,}7 \, {\rm V}} \\ {\approx} \\ {} \\ {} \end{matrix} {-1{,}7 \, {\rm \frac{mV}{K}}}

Diffusionsstrom
Der Diffusionsstrom tritt im mittleren Durchlassbereich auf, wo er über die anderen Effekte dominiert. Die Formel ergibt sich aus der idealen Diode mit:

I_{D,D} = I_S ({e^{U_D \over {n U_T}}}-1)

Bei Schottky-Dioden kann man mit der selben Formel den Emissionsstrom beschreiben.

Hochstromeffekt
Der Hochstromeffekt bewirkt eine Zunahme von n im Bereich der mittleren Ströme auf 2n bei I<

Hierbei beschreibt der Kniestrom I_K die Grenze zum Hochstrombereich.

Leckstrom (Rekombinationsstrom)
Der Leckstrom ergibt sich aus:
{I_{D,R}} ={ I_{S,R} \cdot \left( e^{ { {U_D} \over {n_R \cdot U_T} }-1} \right) \cdot \left{\left( 1-{ {U_D}\over{U_{diff}} } \right) }^2 + 5 \cdot {10^{-3}} \right^{m_S \over 2} }
Hierbei ist I_{SR} der Leck-Sättigungssperrstrom, n_R \ge 2 der U_{diff} \approx die Diffusionsspannung und m_S \approx {\frac{1}{3} \dots \frac{1}{2}} der Kapazitätskoeffizient.

Durchbruch
Der Durchbruch tritt auf, wenn U_D < -U_{BR}. Dieser Effekt wird vor allem bei Z-Dioden angewendet, wobei UBR durch geeignete Dotierung auch auf unter 5V gesenkt werden kann.
I_{D,BR}= {- I_{BR}} \cdot e^{- \over{n_{BR} \cdot U_T}}}
Hierbei ist U_{BR} \approx die Durchbruchsspannung, IR der Durchbruchskniestrom und n_{BR} \approx 1 der Durchbruch-Emissionskoeffizient.

Bahnwiderstand
U_D = U'_D + I_D \cdot R_B

Dynamisches Verhalten

Für Wechselstromanwendungen muss man auch die Kapazitäten der Diode berücksichtigen, welche vor allem bei hohen Frequenzen hervortreten. Hierbei unterscheidet man zwischen der Sperrschichtkapazität und der Diffusionskapazität.

Sperrschichtkapazität

Der p-n-Übergang einer Diode hat eine Kapazität, die von der Breite der Raumladungszone abhängig ist. Wird eine Diode in Sperrrichtung betrieben, so entsteht am p-n-Übergang eine Ladungsträgerverarmungszone, an der sich auch ein elektrisches Feld, bedingt durch die fehlenden Ladungsträger, aufbaut. Mit steigender Spannung vergrößert sich die Breite der ladungsfreien Zone, wodurch die Kapazität abnimmt.

C_S(U'_D) = \frac{C_{S0}}{ {\left( 1- \frac{U'_D}{U_{diff}} \right)}^{m_S}} \, {\rm wenn} \,

C_S(U'_D) = C_{S0} \cdot \begin{cases} { \frac 1 \right) }^{m_S}} } & \mbox{wenn }} \\ {\frac {1 - f_S \cdot { \left( 1 + m_S \right) } + \frac{ m_S \cdot U'_D }{U_{diff}}}{ { \left( 1 - f_S \right) }^{ \left( 1 + m_S \right) }}} & \mbox{wenn }{U'_D > f_S \cdot U_{diff}} \end{cases}

siehe auch: Kapazitätsdiode

Diffusionskapazität
Bei Anlegen einer Durchlassspannung kommt es in den Bahngebieten (also außerhalb der Raumladungszone) zu Minoritätsträgerüberschüssen, die die so genannten Diffusionsladungen bilden. Diese räumlich getrennten Ladungen müssen bei Änderungen der Durchlassspannung auf- bzw. abgebaut werden und beeinflussen somit das dynamische Verhalten der Diode. Diese Beeinflussung lässt sich durch die Diffusionskapazität beschreiben.

IDD wird als Diffusionsstrom bezeichnet und {\tau}_T ist die so genannte Transitzeit:

C_{D,D}{ \left( U'_D \right) }= \frac{\part Q_D}{\part U'_D} = \frac{n U_T} \cdot \frac{1+ \frac{I_S}{2 \cdot I_K} \cdot e^{ \frac{U'_D}{n \cdot U_T}}}{1+ \frac{I_S}{I_K} \cdot e^{ \frac{U'_D}{n \cdot U_T}}}

Näherungsweise kann man auch annehmen, dass für den Diffusionsbereich I_{DD} \gg I_{DR} und damit auch I_D \approx I_{DD} gilt. Daraus ergibt sich die Näherungsgleichung:

C_{D,D} \approx {\frac{1 + \frac{I_D}{I_K}} { \begin{matrix} { I_D \ll I_K } \\ {\approx} \\ {} \end{matrix} } \frac

  • Bei Si-Dioden ist {\tau}_T \approx 1 \dots 100 \, {\rm ns}.
  • Bei Schottky-Dioden ist {\tau}_T \approx 1 \dots 100 \, {\rm ps}, deshalb kann bei Schottky-Dioden die Diffusionskapazität meist vernachlässigt werden.

Kleinsignalmodell

Das Kleinsignalmodell ist eine starke Vereinfachung und wird in der Dimensionierung von elektronischen Schaltungen verwendet, wenn keine hohe Genauigkeit des Ergebnisses notwendig ist. Hierbei wird die einfache Ersatzschaltung der Diode als Schalter betrachtet.

Bild:Diode-Einfache Ersatzschaltung.gif|Einfache Ersatzschaltung

statisches Kleinsignalmodell
Das statische Kleinsignalmodell wird zur Dimensionierung der Arbeitspunkteinstellung von einfachen Schaltungen herangezogen.

r_D = r_{D,D} \approx \frac{n \cdot U_T}{I_{D,A}}
r_Z = r_{D,BR} = {\frac{n_{BR} \cdot U_T}{ \left| I_{D,A} \right|}}

dynamisches Kleinsignalmodell
Das dynamische Kleinsignalmodell berücksichtigt zusätzlich zum statischen Kleinsignalmodell auch die Kapazität der Diode. Damit kann man auch einfache (Niederfrequenz-) Schaltungen mit Kapazitätsdioden dimensionieren.

r_D \approx }
C_D \approx \over {n \cdot U_T}} + 2 \cdot C_{S0}} =

Diodentypen


Neben der einfachen Diode gibt es eine Reihe von speziellen Halbleiterdioden für unterschiedliche Einsatzzwecke:

Gleichrichtung

Spannungs- und Stromstabilisierung

Optik

Kapazitive Dioden

andere

Gesteuerte Gleichrichter und verwandte Bauelemente

Literatur


  • Ulrich Tietze, Christoph Schenk, Eberhard Gamm, Halbleiter-Schaltungstechnik, Springer 2002, 12. Auflage, ISBN 3540428496

Siehe auch


Weblinks


Leistungselektronik | Halbleiterbauelement

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